介电常数测试仪介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据。
1.双击LCQ_DAT_GET.EXE文件,打开数据采集软件,注意不要被防火墙关闭加载的组件.
2.首先点击Power off按钮，按钮中字母变为Power on,同时界面中间的一条黑色条变为为红色时，开始正常工作。选择串口号，根据设备管理器里的端口根据括号里的COM号来选择对应的串口。
3.点击TEST LQ按键,设备会自动扫频测试元器件的电感量,谐振频率和Q值
4.数据的保存：点击“保存数据“按键 ，将把所测数据保存在RFID_SAVE.txt文件中.可在右下角方框内输入保存文件的目录,比如:d:\Qtest\ .如果不设置目录,则文件保存在与LCQ_DAT_GET.EXE软件同一目录下.
5.如果没有USB驱动,请安装CDM v2.08.30 WHQL Certified.exe.If you do not have a USB driver, install CDM v2.08.30 WHQL Certified.exe.