1J3255BL 频率范围 20Hz - 200kHz
1J3255B 频率范围 20Hz - 500kHz 1J3255BQ 频率范围 20Hz - 1MHz
0.1%基本精度（英国标准） DC Bias(直流偏压)*高可到125A(Option)
四线式测试，可**测量极低的Rdc、Rs、L和精准Q
可内建1Amp或2Amp DC Bias 多频率自动测试模式 多点DC Bias扫频功能 涵盖各式测量参数：Z(阻抗), L(电感), C(电容), Rac(交流电阻), Phase(相位), Q(品质因素), D(损耗因素), Rdc(直流电阻) 人性化直觉式操作介面,简单易懂 测试结果列印 可透过IEEE488连线控制
测试夹具选择
1J1020
1J1022
1J1011
介电常数测试治具
（40MHz）
液体介电常数测试治具
（30MHz）
二线制DIP测试治具
（120MHz）
1J1012
1J1024
1J1011W
二线制SMD测试治具（弹片型）
二线制SMD测试治具（探针型）
四线制DIP 测试治具
(120MHz)
1J1014
1J1015
1J10154
四线制SMD测试治具
二线制DIP高电流测试治具
（125A）
（3MHz）
四线制DIP高电流测试治具
1J1016
1J10164
1J1023
二线制SMD高电流测试治具
四线制转二线制高频转接头
1J1025
1J1032
1J10324
探针式测量治具
二线制SMD底部电极测试夹具
四线制SMD底部电极测试夹具
1J1026
1J1027
1J1028
（20A）
（40A）
（80A）
1J10264
1J10284
1J1036
（60A）
（250A）
1J10362
1J1100
1J1031
电容充放电保护单元
高频80A SMD 二线式底部接触式转接座
1J1037
1J1001
1J1002
偏置电流夹具适配器
四转一测试夹具
四转二测试夹具
1EV1006
1EV1505
1EV1905A
四线式DIP测试治具
(1MHz)
四线式测试夹具
(3MHz)
两线式探针型高频测试线
(50MHz)
1EV1905X
1EVA40100
1EVA40120
两线式探针型高频测试线SMD
精密型测试夹具
SMD镊子式高精密测试夹具
1EVA40125
1EVA40150
1EVA40180
镊子式高精密测试夹具
（尖型）
（大型）